硅酸根测定仪校准项目
(1)外观检查；(2)绝缘电阻(首检)；(3)分析仪示值误差；(4)分析仪重复性；(5)分析仪零点漂移；(6)分析仪量程漂移
硅酸根测定仪校准的项目指标
(1)示值误差校准(用引用误差)
在SiO2含量为0~50 u g / mL的范围内，示值误差不大于其量程的2.0%在SiO2含量为0~200 u g / mL的范围内，示值误差不大于其量程的2.5%。
(2)分析仪重复性的校准(用多次测量的标准偏差表示)分析仪重复性测量的标准偏差不大于1.5%。
(3)分析仪零点漂移的校准：在15min内应不超过1.0 u g / mL。
(4)分析仪量程漂移的校准：在15min内应不超过2.0 u g / mL。